四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測量儀/四探針半導(dǎo)體電阻率測量儀

更新時(shí)間：2012-04-06 | 點(diǎn)擊率：533

四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測量儀/四探針半導(dǎo)體電阻率測量儀型號:HAD-SB100A/2

HAD-SB100A/2為原SB100/1及SB100A/1的改型。

由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實(shí)際的需要，本儀器采用四探針法原理來實(shí)現(xiàn)對不同金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電分子材料的電阻及電阻率的測量?？捎糜谛Ｎ锢斫逃龑?shí)驗(yàn)，對導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻及電阻率的測試及研究。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達(dá)10^-6—10⁶Ω。

（使用環(huán)境5—40℃，相對濕度<80%，供電220V 50Hz，為實(shí)驗(yàn)室環(huán)境使用）

HAD-SB100A/2由HAD-SB118直電壓電源、HAD-PZ158A直數(shù)字電壓表、SB120/2四探針樣品測試平臺三分組成。

l HAD-SB118直電壓電源：是臺4½位的電壓源及電源，既可輸出5µV—50V，5檔可調(diào)電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調(diào)電，基本誤差為

±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產(chǎn)品SB118。

l HAD- PZ158A直數(shù)字電壓表：具有6½位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機(jī)處理的度電子測量儀器，可測量0-1000V直電壓。基本量程的基本誤差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產(chǎn)品HAD-PZ158A。

l HAD-SB120/2四探針樣品測試平臺：該測試平臺是HAD-SB120/1測試平臺的改型。其有底座、支架、旋動(dòng)件、樣品平臺、四探針及接線板等組成。由于其整個(gè)結(jié)構(gòu)及旋動(dòng)方式都在原HAD-SB120/1的基礎(chǔ)上作了很大的改，故在校的物理實(shí)驗(yàn)及研究總為導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便

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四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測量儀/四探針半導(dǎo)體電阻率測量儀