在 1845年，Michael Faraday發(fā)現(xiàn)了磁光效應(yīng)，他發(fā)現(xiàn)當(dāng)外加磁場(chǎng)加在玻璃樣品上時(shí)，透射光的偏振面將發(fā)生旋轉(zhuǎn)的效應(yīng)，隨后他在外加磁場(chǎng)之金屬表面上做光反射的實(shí)驗(yàn)，但由于他所謂的表面并不夠平整，因而實(shí)驗(yàn)結(jié)果不能使人信服。1877年John Kerr在觀察偏振化光從拋光過的電磁鐵磁反射出來時(shí)，發(fā)現(xiàn)了磁光克爾效應(yīng)（magneto-optic Kerr effect）。1985年Moog和Bader兩位學(xué)者行鐵薄膜磊晶成長(zhǎng)在金單晶（100）面上的磁光克爾效應(yīng)量做實(shí)驗(yàn)，成地得到原子層厚度磁性物質(zhì)之磁滯回線，并且提出了以SMOKE來作為表面磁光克爾效應(yīng) （surface magneto-optic Kerr effect）的縮寫，用以表示應(yīng)用磁光克爾效應(yīng)在表面磁學(xué)上的研究。由于此方法之磁性解析靈敏度達(dá)原子層厚度，且儀器配置合于真空系統(tǒng)之作，因而成為表面磁學(xué)的重要研究方法。

　　它在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應(yīng)用。應(yīng)用該系統(tǒng)可以自動(dòng)掃描磁性樣品的磁滯回線，從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外，該系統(tǒng)可以和真空系統(tǒng)相連，對(duì)磁性薄膜和薄膜行原位測(cè)量。

　　儀器主要參數(shù)：

　　1．半導(dǎo)體激光器 波長(zhǎng) 650nm 輸出率 2mW

　　2．偏振棱鏡 格蘭－湯普遜棱鏡 通光孔徑 8mm 消光比10 －5 主透射比90％

　　3．電磁磁鐵 中心zui大磁感應(yīng)強(qiáng)度0.3T 磁間隙 30mm

　　4．恒電源 zui大電壓 38V zui大輸出電 10A

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